X-Strata920

El X-Strata 920 de Hitachi High-Tech Analytical Science es un equipo para la medición de espesor del recubrimiento y el análisis de materiales para mejorar el control de proceso y calidad con fluorescencia de rayos X (XRF)
El X-Strata 920 es un equipo de control de calidad de sobremesa de XRF compacto, resistente y fiable para un análisis rápido, simple y no destructivo de medición del espesor del recubrimiento y análisis de materiales.
Realiza análisis excelentes del espesor del recubrimiento y la caracterización del análisis de múltiples capas en una amplia gama de mercados industriales, incluyendo la electrónica, acabado de metales, aleaciones y ensayo de metales preciosos.
 
El espesor del revestimiento de medición del analizador-X Strata 920 ofrece:
- Análisis no destructivo sin preparación de la muestra
- Tecnología probada en campo y la fiabilidad asegurar el valor del dinero año tras año
- Fácil de usar, con una formación mínima requerida del usuario
- Análisis en solo tres sencillos pasos
- Excelente precisión y la exactitud del análisis 
- Más de 20 años de experiencia en la industria de recubrimientos
- Medición del espesor del recubrimiento gracias al espectrómetro de rayos X, potente y fácil de usar, que garantiza la calidad y reduce los costes.
 
 

Contáctenos aquí para más información del equipo