Phenom Pro X

PHENOM PROX HIGH PERFORMANCE SEM COMPACT

El microscopio electrónico de barrido SEM Phenom ProX combina la calidad de imagen, la facilidad de uso y la velocidad del modelo Pro con el microanálisis EDS (o EDX).

El Phenom ProX es un microscopio electrónico de barrido compacto y es el sistema definitivo para la generación de imágenes y análisis EDS. Con el Phenom ProX Bench Sink es posible, por lo tanto, examinar la estructura de la muestra y determinar su composición elemental, ya que está equipada con un detector EDS (o EDX) especialmente diseñado y totalmente integrado.

Gracias a la opción 'Asignación de imágenes elementales', es posible llevar a cabo el mapeo completo de los elementos dentro de la muestra. Los elementos previamente seleccionados por el operador gracias a la función EDX de análisis elemental se pueden visualizar en la imagen con una resolución (en píxeles) y un tiempo de adquisición especificado por el usuario. El algoritmo de mapeo proporciona en tiempo real el mapa del elemento seleccionado mientras se registra el espectro de cada píxel: esto le permite agregar o eliminar elementos en cualquier momento durante el proceso de mapeo, a fin de obtener una visión muy clara y precisa de los elementos presentes dentro de la muestra.

 

Especificaciones

  • Rango de ampliación 80 - 150.000x
  • Resolución ≤ 8nm
  • Campo de elementos detectables: B-Am
  • Fuente de larga duración y alto brillo (CeB6)
  • Rango de voltaje variable: de 4.8kV a 15kV
  • Adquisición de imágenes SEM a partir de la carga de la muestra: <30 segundos
  • Cámara en color para navegación por la muestra: zoom de 20 a 120x
  • Pro Suite incluido
  • Bajo consumo de energía