MAXXI 6

Sistema EDXRF microspot de alto rendimiento y no destructivo para el análisis no destructivo y rápido del espesor de recubrimientos multicapa y la composición elemental en una amplia gama de materiales, 13Al a 92U:

Métodos de medición según ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 e IEC 62321.

El tubo de rayos X Be Window de micro-focus combina análisis de alta precisión, tiempos de medición más cortos con alta confiabilidad comprobada en el campo y una vida útil excepcional.

Resolución superior. El detector SDD de 25 mm2 enfriado por Peltier ofrece una eficiencia óptima en todos los niveles de energía y un límite de detección mejorado.

El conjunto de colimadores múltiples (de 0.05 mm hasta 1.0 mm) optimiza la generación de flujo, mejorando el rendimiento de la medición.

El conjunto del filtro de haz primario optimiza las condiciones de excitación, mejorando la relación señal a ruido.

El analizador multicanal digital de 4096 canales proporciona un alto rendimiento de señal, corrección de tiempo muerto y rechazo de acumulación de impulsos para obtener las mejores estadísticas de medición.

Diseño de cámara cerrada gigante con volumen interior generoso (w x d x h) 500 mm x 450 mm x 170 mm.

El diseño de la cámara ranurada proporciona una solución para muestras de gran tamaño.

Etapa XY motorizada con programabilidad de 200 mm x 200 mm.

Chasis robusto y robusto diseñado para operar en los más desafiantesCondiciones industriales.

El diseño compacto de la estación de trabajo ofrece una excelente ergonomía y una huella reducida.

El software SmartLink basado en 64 bits de Microsoft ™ Windows 10.

Selección libre de cualquier elemento.

Estructura de capa libre definible con múltiples capas de aleación.

El enfoque de video estándar encuentra automáticamente a pedido la coordenada del eje Z correcta a la distancia focal deseada, mejorando la reproducibilidad del sistema.

Elección de los métodos de calibración del espesor del recubrimiento: calibraciones empíricas para la máxima precisión o parámetros fundamentales (FP). Modelo para facilitar la calibración del instrumento.

Modo de calibración de análisis de materiales a granel mediante un generador de métodos paso a paso integrado.

Combine calibraciones empíricas y de FP para ampliar las capacidades analíticas.

La compensación térmica y la medición de referencia, el control de un solo clic y el procedimiento de corrección, garantizan la estabilidad del instrumento a largo plazo.

La elección de los estándares de lámina certificada suministrados por Hitachi (solo espesor) garantiza la trazabilidad del análisis.

Soporte mundial: red dedicada de soporte al cliente, formada por ingenieros expertos en EDXRF.

La culminación de más de 30 años de conocimiento y experiencia en la industria de instrumentación analítica EDXRF.

La aprobación de PTB garantiza el más alto nivel de seguridad de radiación.

Made-in-Germany garantiza la máxima calidad y fiabilidad.

 

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Más información: https://hha.hitachi-hightech.com/en/product-range/products/benchtop-xrf-analysers/benchtop-micro-spot-xrf-analysers