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Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece la más avanzada gama de analizadores portátiles de fluorescencia de rayos X mediante dispersión de energía (EDXRF - Energy Dispersive X-ray Fluorescence).

La nueva generación de detectores SSD (detector de deriva de silicio) de alta resolución y alta sensibilidad para equipos XRF portátiles, gama X-MET, permiten analizar un amplio abanico de elementos, desde Magnesio (Mg) hasta Uranio (U),, en un rango de concentraciones que pueden ir desde algunos ppm hasta porcentajes superiores.

La técnica XRF presenta las siguientes ventajas: preparación mínima o inexistente de la muestra, análisis rápido y no destructivo, facilidad de uso incluso para operarios de fábrica, no requiere reactivos de costes elevados y/o potencialmente peligrosos.

A todas estas ventajas, se suma el hecho de que los equipos XRF portátiles conceden al usuario la libertad de realizar análisis in situ de piezas de cualquier tamaño. No es necesaria la destrucción de las muestras originales para su transporte y realización de ensayos en laboratorio.

Están disponibles modelos con calibraciones de parámetros fundamentales (FP) y calibraciones empíricas (con padrones).

Mediante un espectrómetro de fluorescencia de rayos X, el usuario puede identificar aleaciones férricas y no férricas, materiales minerales, cerámicos, suelos y plásticos, así como realizar análisis de sólidos, líquidos, polvos y films entre otros. ¡Todo ello con un solo clic!

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Hitachi High-Tech X-MET 8000
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Hitachi High-Tech XMET EXPERT GEO
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