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Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece una gama de analizadores XRF (fluorescencia de rayos X) especialmente diseñados para el análisis de espesores y composición química de recubrimientos, en un rango que abarca desde el Azufre (S) hasta el Uranio (U). Es posible medir hasta 5 capas y 15 elementos, de acuerdo con las normas ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 y IEC62321.

Hitachi High-Tech X-Strata920
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Hitachi High-Tech MAXXI 6
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