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Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece una gama de analizadores de fluorescencia de rayos X mediante dispersión de energía (EDXRF de Energy Dispersive X-ray Fluorescence).

La nueva generación de detectores SSD (detector de deriva de silicio) de alta resolución y alta sensibilidad permite analizar una amplio abanico de elementos, desde Sodio (Na) hasta Uranio (U), en un rango de concentraciones que pueden ir desde algunos ppm hasta porcentajes superiores.

El uso de la fluorescencia de rayos X presenta varias ventajas: una mínima o inexistente preparación de la muestra, análisis no destructivos, rápidos, de fácil operación incluso para operarios de fábrica, sin el consumo de reactivos de costes elevados y/o potencialmente peligrosos. Para análisis de sólidos, líquidos, polvos, pastas, películas, revestimientos…

Hitachi entre sus modelos X-Supreme y Lab-X5000 ofrece soluciones pre-calibradas para aplicaciones en diversas industrias:

  • Análisis de Cementos
  • Análisis de materias primas para cementos (Mg, Al, Si, K, Fe)
  • Determinación de Azufre (S) en combustibles
  • Determinación de Preservativos químicos en madera
  • Determinación de Cu e Zn en baños ácidos
  • Determinación de P, S, Ca y Zn en aceites lubricantes
  • Determinación de Azufre (S) e Cloro (Cl) en aceites
  • Determinación de Silicona en papel
  • Dependiendo del modelo
  • X-Supreme cumple con las normas ASTM D4294, ISO8754, ISO20847  y ISO13032
  • LAB-X5000 cumple con las normas ASTM D4294, ISO 8754, ISO 20847 y IP 336.
Hitachi High-Tech X-Supreme8000
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Hitachi High-Tech Lab-X5000
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